大量程幹法激光粒度分析儀LAP-D2000-廈門易仕特儀器有限公司
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大(da)量程幹法激(jī)光粒度分析(xi)儀

更新時間(jian):2025-12-15

簡要描述:

大(da)量程幹法激(ji)光粒度分析(xi)儀采用會聚(ju)光傅立葉變(bian)🌂換測試技術(shù)保證在Z短的(de)焦距獲得Z大(da)量程,有效提(tí)高儀器的分(fen)辨能力;*的小(xiao)探頭排布,讓(ràng)D2000擁有了*的小(xiao)顆粒測試能(néng)🚩力。*的自動對(dui)中系統及電(diàn)腦操作系統(tong)彰顯出LAP-D2000人性(xing)化設計。

LAP-D2000法激光粒度(dù)儀

LAP-D2000大量程幹(gàn)法激光粒度(du)分析儀主要性能特(te)點:

*的光(guang)路設計:

  LAP-D2000采用會聚光(guāng)傅立葉變換(huàn)測試技術保(bao)證在較短的(de)焦距獲☔得較(jiào)大量程,有效(xiào)提高儀器的(de)分辨能力;*的(de)小探🛀🏻頭排布(bu),讓D2000擁有(you)了*的小顆粒(lì)測試能力。*的(de)自動對中系(xì)統及電腦操(cāo)作系統♌彰顯(xian)出LAP-D2000人性(xing)化設計。

高穩定光路(lu)優化:

  *的(de)設計讓LAP-D2000擁有了*的高(gao)穩定光路,它(tā)采用了高穩(wen)定、長壽命的(de)進口大👅功率(lü)光纖輸出激(ji)光器,優良的(de)單色性讓LAP-D2000有了*的穩(wen)定性;主要光(guāng)路采取了全(quán)封閉設計,保(bao)證了儀器在(zai)🌏複💯雜環境長(zhǎng)時間測試;高(gao)密度旋轉式(shi)探頭分㊙️布保(bǎo)證了LAP-D2000*的(de)全量程無縫(féng)測試;

*的(de)幹法分散系(xì)統:

  LAP-D2000分散(san)系統在法國(guó)理論數據的(de)基礎上進行(háng)了優化設✌️計(jì)👨‍❤️‍👨,使LAP-D2000對幹(gan)粉的分散更(geng)加均勻,*的負(fù)壓保證了進(jìn)料的連續性(xing)及均勻性,有(you)效避免測試(shi)過程中幹粉(fen)的相互粘連(lián)。

大量程幹法(fa)激光粒度分(fen)析儀探(tan)測器:

  LAP-D2000探(tàn)測器采用了(le)主探測器與(yu)副探測器相(xiàng)結合的全新(xin)👈設計,保證了(le)儀器全量程(chéng)内無縫探測(ce),使測試更加(jiā)準确。主探測(ce)器設🔴計了💋自(zì)動對中系統(tong),可實現儀器(qì)的一鍵自動(dòng)對中,彰顯人(ren)性化設計❄️。同(tóng)時有效避免(mian)手動對中對(duì)探測器的損(sun)害,有效延長(zhǎng)了儀器的使(shi)用壽命。

防塵、防震設(shè)計:

  儀器(qi)整體進行了(le)密封設計,大(dà)幅提高了内(nèi)部元器🌏件使(shǐ)用壽命。*的懸(xuan)浮式結構能(néng)有效避免外(wài)界震動對儀(yí)器的幹擾,使(shǐ)結㊙️果測試更(gèng)穩定可靠。

光路自動(dòng)校對:

  光(guāng)路微變,儀器(qi)可以自行對(duì)光路進行調(diao)節。

管道(dào)無殘留:

  測試完成後(hou)管道内無殘(cán)留樣品,不會(hui)對下次測試(shì)🔅造成幹擾。

計算機控(kòng)制喂料:

  測試人員可(kě)借助計算機(ji)控制儀器進(jìn)料量。

主(zhǔ)要技術參數(shu):

LAP-D2000技術參(cān)數

規格(gé)型号

執(zhí)行标準

ISO   13320-1:1999GB/T19077.1-2008

測試範(fan)圍

0.1μm -2000μm

探測器(qì)通道數

76

準确性誤差(chà)

<1%(國家标(biāo)準樣品D50值)

重複(fu)性誤差

<1%(國家标準樣(yang)品D50值)

喂料方式(shi)

高精度(du)振動喂料方(fang)式,保證測試(shi)過程中下料(liao)均勻

誤(wu)操作保護

儀器具備(bèi)誤操作自我(wǒ)保護功能,儀(yí)器對誤操作(zuo)不🏒響應

激光器參數(shu)

進口光(guang)纖輸出大功(gong)率激光器 λ= 650nm,  p>10mW

分散(sàn)方法

高(gao)壓空氣紊流(liu)分散

軟(ruǎn)件功能

分析模式

包括自由(yóu)分布、R-R分(fen)布和對數正(zhèng)态分布、按目(mu)分級統計模(mo)式等,滿足不(bu)同行業對🐉被(bèi)測樣品粒度(dù)統計方式的(de)不同要求

統計方式(shi)

自行DIY顯示模闆

多語言支持(chi)

中英文(wen)語言界面支(zhī)持,還可根據(ju)用戶要求嵌(qiàn)入其他語言(yan)界面。

操作模式(shi)

電腦操(cao)作

測試(shì)速度

<1min/次(cì)(不含樣品分(fen)散時間)

重(zhong)量

35Kg

   

 

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