LAP-W2000濕法全自動激(ji)光粒度分析儀

産品名稱：LAP-W2000濕法激光粒(li)度分析儀

技(jì)術标準：ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008

測試範圍: 0.1um～1250um 0.1um～2000um

探測(cè)單元：86、96

激光類型:進口光纖半導體(ti)激光器

首先(xiān)感謝您對LAP-W2000濕法智(zhi)能全自動激光粒(lì)度分析儀的關注(zhu)！

LAP-W2000是我公司傾(qīng)力研發的産品，自(zi)上市以來赢得了(le)廣大客戶的🏃*。LAP-W2000采用(yong)*的Mie氏散射原理和(he)會聚光傅立葉變(bian)換光🏒路。高✌️密度探(tàn)頭✂️及全量程無縫(feng)銜接測試方法，保(bao)證了測試結💘果的(de)準确性和❗重複性(xìng)。*的濕法循環分散(san)系統，保證顆粒測(ce)試過程🌏中無顆粒(lì)🔴沉積現象，測試排(pái)水後無廢液積存(cun)現象，保證了第二(er)次測試精度，使測(ce)試結果更真實可(ke)靠🍉；同時采取了管(guan)道無殘留設計，保(bǎo)證了測試不同樣(yàng)品的準确性。*的光(guāng)路自動校對系統(tǒng)彰顯出LAP-W2000*優勢。濕法激光粒度分(fen)析儀

LAP-W2000激(jī)光粒度分析儀主(zhǔ)要性能特點：

*的光路設計：LAP-W2000采用會聚光(guāng)傅立葉變換測試(shì)技術保證在zui短的(de)焦距獲得zui大⛱️量程(chéng)，有效提高儀器的(de)分辨能力；*的高密(mi)度探🍉測單元，讓LAP-W2000擁(yōng)有了*的小顆粒測(ce)試能力，高密度探(tan)測單元使LAP-W2000具有*的(de)全♊量程無縫測試(shì)能力，高配版采用(yòng)了雙光路設計。

進口光纖半導(dǎo)體激光器：LAP-W2000采(cǎi)用了高穩定、長壽(shòu)命的進口大功率(lǜ)光纖輸出半導✉️體(tǐ)激🐇光器❤️，優良的單(dan)色性及穩定性讓(rang)LAP-W2000擁有了*的測試重(zhong)複性。濕法激(jī)光粒度分析儀

激光器功率監(jian)測及自動調整：*采用了恒功率(lǜ)激光器，實時對激(jī)光功率進行檢測(ce)并自動💁調📧整功能(neng)，有效避免長期使(shǐ)用造成的激光功(gōng)率衰減的問題。同(tóng)時采用了恒流恒(heng)壓高濾波激光電(dian)源有效延❄️長了激(jī)🈚光器壽💰命，正常使(shi)用達3萬小時以上(shàng)。

防塵、防震設(shè)計：儀器整體(tǐ)進行了密封設計(ji)，大幅提高了内部(bu)元器件使用壽命(mìng)。*的懸浮式結構能(neng)有效避免外界震(zhen)動對儀器的幹擾(rao)，使結果測試更穩(wěn)定可靠。

自動(dòng)對中：*采用機(ji)械中心與光學中(zhong)心相結合技術，光(guāng)路自動調整定位(wèi)更，達到微米級别(bié)；同時光路調整速(su)度個更快捷zui快15秒(miao)即可完成調整。自(zì)行研制的自動對(dui)中系統包括步進(jìn)電機、精密導軌、精(jīng)密控制器以及軟(ruǎn)件⛱️系統組成，zui小步(bù)距0.2微米，保證激光(guāng)束焦點始終從探(tàn)測器中心點穿過(guo)，提高測👨‍❤️‍👨試結果的(de)🔴準确性以及測試(shì)的重複性。自動對(duì)中系🥵統是易仕特(te)所有型号激光粒(lì)度儀的标準配置(zhi)。

智能全自動(dòng)操作模式：軟(ruan)件實現一鍵式操(cāo)作，自動進水、自動(dong)進樣、自動測💁試、自(zi)動清✂️洗，整個測試(shì)過程實現一鍵式(shi)全自動操作，使🔱用(yong)方便快捷。

*微(wēi)量循環系統：整個分散循環系(xi)統進行了優化設(she)計，分散介質大于(yu)180毫升即可循環測(ce)試，真正達到了微(wēi)量循環測試；所有(you)接頭采用了速插(cha)快擰設計，短時間(jian)内即可更換全部(bù)管道；優化的設㊙️計(jì)保證排水後♉無廢(fei)夜殘留🔆，保證了下(xia)🔅一次測試結果的(de)準🤩确性。

超寬(kuān)量程：LAP-W2000量(liàng)程達到了0. 1μm～2000μm或0.01μm～2000μm。

超聲防幹燒：LAP-W2000配備了100W大功(gong)率超聲，同時具有(yǒu)超聲防幹燒功能(néng)。

誤操作保護(hù)：LAP-W2000具有自(zi)我保護功能，對一(yī)些會損害儀器的(de)誤操作不響應，大(dà)大降低了因人爲(wei)誤操作造成的損(sun)壞。

露點測量(liang)：樣品窗結霧(wu)會影響測量的準(zhǔn)确性，這樣的測試(shi)結果沒💃有實際意(yi)義，LAP-W2000加裝了有霧點(dian)測量系統，一旦起(qi)🐪霧軟件會自動提(tí)示（選裝）。

免排(pai)氣泡設計：全(quan)新的設計使整個(gè)測試過程不會有(yǒu)氣泡進入測試♉樣(yàng)🐉品窗，避免了氣泡(pao)幹擾（免排氣泡功(gōng)能技術我們*擁有(yǒu)）。

樣品無殘留(liu)設計：儀器管(guǎn)道及排水結構進(jìn)行了優化設計，儀(yí)器管道、循✍️環泵内(nei)無積液殘留，避免(miǎn)對下一次測試數(shù)據的影響📞；幹法測(ce)試同樣⭐進行🔱了無(wú)殘留設計。

樣(yàng)品窗快換裝置：全新設計的樣(yang)品窗快換裝置，使(shi)樣品窗更換更方(fāng)便快捷（20秒鍾即可(kě)完成樣品窗的拆(chāi)裝過程）。

穩定(dìng)性及重複性達到(dao)國外儀器标準

主要技術參數(shu)：