磨粉(fěn)激光粒度儀供應(yīng)廠家

磨(mo)粉激光粒度儀供(gong)應廠家

磨粉(fen)按照研磨粉顆粒(lì)的尺寸大小來區(qu)分的，一般被💛分爲(wei)磨粒😘、磨粉、微粉和(hé)精粉四種。粉體樣(yàng)品中不同粒徑顆(ke)🔴粒占顆粒🔴總量的(de)百分數。有區間分(fen)布和累計分布兩(liǎng)種🛀形式。區間分布(bù)又稱爲😄微分分布(bù)或頻率分布，它表(biǎo)示一系列粒徑區(qū)間中顆💜粒的百分(fèn)🥰含量。累計分布也(yě)叫積分分布，它表(biǎo)示小于或大于某(mou)粒徑顆粒的百分(fen)含量。磨粉激光粒(lì)度儀是一款用于(yu)檢測研磨粉顆粒(li)粒徑及粒徑分布(bù)的精密儀🚶‍♀️器，該儀(yí)器具有測試速度(dù)快、測試範圍寬💯、重(zhong)複性和真實性好(hao)、操作簡便等優點(dian)。

磨粉激光粒(lì)度儀供應廠家

磨粉激光粒度(dù)儀适用範圍：

     LAP-DW2000激光粒度儀廣泛(fàn)應用于水泥、陶瓷(ci)、藥品、乳液、塗料、染(ran)料、顔料、填料、化工(gong)産品、催化劑、鑽井(jing)泥漿、磨料、潤滑劑(jì)、泥砂、粉塵、細胞、細(xi)菌、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料(liào)、燃料、墨汁、金屬與(yǔ)非金屬粉末💛、碳酸(suan)鈣、高嶺土、水煤漿(jiang)、鋁銀漿及其他粉(fěn)狀物料。

LAP-DW2000幹濕(shi)一體激光粒徑檢(jiǎn)測儀主要性能特(tè)點：

*的光路設(shè)計：LAP-DW2000激光粒度(dù)儀采用會聚光傅(fù)立葉變換測試技(ji)術，保證👅在🔆較短的(de)焦距獲得大量程(cheng)，有效提高儀器的(de)分🛀🏻辨能力；*的☁️高密(mì)度探測單❌元，讓LAP-DW2000擁有了*的小顆(ke)粒測試能力，高密(mi)度探測單元的使(shǐ)用讓LAP-DW2000具有*的(de)全量程無縫測試(shi)能力。

幹、濕一(yī)鍵切換：幹濕(shi)切換将由儀器自(zì)動完成，全部過程(cheng)10S内完成。

主探測器Z向(xiang)自動移動：幹(gàn)濕切換後因光學(xué)玻璃的介入會導(dao)緻會聚光焦✍️距變(biàn)化，LAP-DW2000激光粒度(du)儀會根據幹、濕法(fǎ)的不同自動調整(zhěng)主探🚶測🥵器⛱️，使主探(tan)測器始終在焦平(ping)面上（實現光路三(sān)維自動校對）。

防塵、防震設計：儀器整體進行(háng)了密封設計，大幅(fú)提高了内部元器(qi)件✌️使✊用壽命。*的懸(xuán)浮式結構能有效(xiao)避免外界震動對(duì)儀器的影響，使測(ce)💯試結果更穩定可(ke)靠。

強防腐設(she)計（選配）：根據(jù)客戶實際需求可(ke)以配備耐酸、耐堿(jiǎn)、耐油（含一🌈切溶劑(jì)油㊙️）、耐有機溶劑。

進口氦-氖(nǎi)激光器：LAP-DW2000激光(guāng)粒度儀采用了高(gāo)穩定、長壽命的進(jìn)口氦-氖激光(guang)器，優良的單色性(xing)及穩定性讓LAP-DW2000擁有了*的測試重(zhong)複性（标配爲國産(chan)）。

光路自動校(xiào)對：自動對焦(jiao)系統，儀器可自動(dòng)校對光路。

*微(wei)量循環系統：整個分散循環系(xi)統進行了優化設(shè)計，分散介質大于(yu)150毫升即可循(xún)環測試，真正達到(dào)了微量循環測試(shì)；優化的設計保證(zhèng)排水後無廢液殘(cán)留，保證了下一次(ci)✨測試結果的準确(que)性。

超寬量程(cheng)：LAP-DW2000激光粒度儀(yí)量程達到了0.1μm～2000μm。

免排氣(qi)泡設計：全新(xin)的設計使整個測(cè)試過程不會有氣(qì)泡進入測💃🏻試樣品(pin)窗，避免了氣泡影(yǐng)響。

樣品無殘(can)留設計：儀器(qì)管道及排水結構(gòu)進行了優化設計(ji)，儀器管道、循環泵(bèng)内⁉️無積液殘留，避(bi)免對下一次測試(shi)數據的影響；幹法(fa)測試同樣進行了(le)無殘留設計。

幹法計算機遠程(chéng)控制喂料：LAP-DW2000幹(gàn)法測試時測試人(ren)員可通過電腦遠(yuan)端控制喂料速度(du)，大大減少了測試(shi)人員的勞動強度(du)。

樣品窗快換(huan)裝置：全新設(shè)計的樣品窗快換(huan)裝置，使樣品窗更(geng)換更方便快捷。

幹濕一體激光(guāng)粒徑檢測儀*的濕(shī)法循環分散系統(tǒng)，保證顆粒保證測(ce)試過程中無顆粒(lì)沉積現象，測試完(wán)畢✊後無廢液積存(cun)😘設計😘，保證了下一(yī)次測試精度，使測(cè)試🔞結果更真實可(kě)靠；幹法分散采用(yong)力了直線噴射分(fen)散設計，樣品經過(guo)高壓氣體分散後(hòu)垂直向後方飛行(hang)，避免了待測小🔆顆(kē)粒的二次🎯團簇，同(tong)時采取了管道無(wu)殘留設計，保證了(le)測試不同樣品的(de)準确性。*的光路自(zì)動校對系統、幹濕(shī)一鍵切換系統、幹(gan)法電腦遠端控制(zhì)喂料系統等精心(xīn)設計彰顯出LAP-DW2000*優勢。